高低温冷热冲击试验箱是一种用于模拟极诲温度快速变化环境的可靠性测试设备，主要用于评估电子元器件、集成电路、汽车零部件、航空航天材料、军工产物及消费类电子产物在剧烈温度交变条件下的耐久性、稳定性和失效模式。其核心功能是通过在极短时间内（通常几秒至几十秒）将样品从高温区（如+150℃）切换至低温区（如-65℃或更低），反复循环，以加速暴露材料因热胀冷缩产生的微裂纹、焊点疲劳、涂层剥落等潜在缺陷。
高低温冷热冲击试验箱的使用方法：
一、预处理
将待测样品放置在正常的试验大气条件下（如室温环境），直至样品温度稳定（通常需静置数小时）。此步骤确保样品初始状态一致，避免因温度差异影响试验结果。
二、初始检测
样品检查：将样品与标准要求（如尺寸、外观、性能参数）进行比对，确保符合试验条件。
放置样品：将样品按标准要求放入试验箱内的样品架或吊篮中，确保样品与箱壁、样品架无直接接触，避免温度传导不均。
叁、试验执行
试验通常包含高温冲击、低温冲击及循环冲击叁个阶段，具体步骤如下：
高温阶段
设定参数：将试验箱温度升至预设高温值（如+70℃），保持1小时或直至样品温度稳定（以时间较长者为准）。
观察记录：记录温度变化曲线及样品状态（如是否变形、开裂）。
低温阶段
快速转换：高温阶段结束后，在5分钟内将样品转移至已调节至预设低温值（如-55℃）的试验箱内。
保持时间：保持1小时或直至样品温度稳定。
观察记录：检查样品是否出现脆化、收缩或电气性能异常。
循环冲击
重复流程：按&濒诲辩耻辞;高温&谤补谤谤;低温&谤补谤谤;高温&谤诲辩耻辞;的顺序重复上述步骤，完成3个完整循环周期（部分标准可能要求更多循环）。
误差调整：根据样品大小及试验箱空间，允许时间存在轻微误差（如&辫濒耻蝉尘苍;5分钟）。
四、恢复
试验结束后，将样品从试验箱中取出，放置在正常大气条件下（如室温环境）静置，直至样品温度恢复至初始状态。此步骤用于观察样品在脱离极诲环境后的性能恢复情况。
五、后检测
性能评估：对照标准要求，检测样品外观（如裂纹、变色）、尺寸变化、重量损失及电气性能（如电阻、绝缘性）。
结果判定：根据损伤程度（如裂纹数量、性能衰减率）评定样品是否合格。
